Mikroskop elektron ye cɔl HF-3300
Hitachi ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye Teknoloji dual prism holography, sp
Detalji proizvoda
Mikroskop elektron ye cɔl HF-3300
Hitachi ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye tɛ̈n ye Teknoloji dual prism holography, spectrum de electron energy loss spectrum ye cɔl spatial distinction, ku jɔl ya teknoloji de nanoelectron beam diffraction ye cɔl high precision, ye dhöl yam ye cɔl high efficiency, high precision sample analysis.
Karakteristika
Resolution
0.1 nm ((kristal dot array)
0.19 nm (point-to-point)
0.13 nm ((Limit de wël)
Wurting Multiple
200 ha 1,500,000
Voltage acceleration
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
- *
- : Aksesori kuany
Kategori Karewa
- Focus ion beam
- TEM/SEM Samples Pre-Processing Device
Онлайн разпит
